參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

1.厚度偏差率：測量范圍0.01-1.00mm，精度0.1μm
2.密度測定：分辨率0.001g/cm，符合ISO1183標(biāo)準(zhǔn)
3.彈性模量：測試范圍1-500GPa，應(yīng)變速率0.001-5mm/min
4.抗拉強度：最大載荷500N，延伸率測量精度0.05%
5.表面粗糙度：Ra值測量范圍0.01-10μm，三維形貌重建

檢測范圍

1.金屬箔材：銅箔（6-200μm）、鋁箔（5-150μm）
2.高分子薄膜：PET膜（12-250μm）、PI膜（7.5-125μm）
3.復(fù)合材料：碳纖維預(yù)浸料（50-300μm）
4.陶瓷基片：氧化鋁基板（100-1000μm）
5.紙張材料：電容器紙（8-40μm）、卷煙紙（18-28μm）

檢測方法

1.接觸式測厚法：ASTME252-06(2021)標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行
2.X射線熒光法：ISO3497:2020鍍層厚度測定
3.三點彎曲試驗：GB/T232-2010金屬材料彎曲試驗
4.激光共聚焦法：ISO25178-2:2022表面形貌分析
5.動態(tài)熱機械分析：GB/T33061-2016DMA測試規(guī)范

檢測設(shè)備

1.MitutoyoLSM-5000激光測厚儀：分辨率0.01μm
2.MettlerToledoXS205電子天平：最大稱量220g
3.Instron5944萬能材料試驗機：載荷精度0.5%
4.KeyenceVK-X3000激光顯微鏡：12000光學(xué)放大
5.NetzschDMA242E動態(tài)熱機械分析儀：溫度范圍-170~600℃
6.BrukerD8ADVANCEX射線衍射儀：角度重復(fù)性0.0001
7.ZeissSigma500場發(fā)射電鏡：分辨率0.8nm@15kV
8.Agilent5500原子力顯微鏡：Z軸噪聲＜0.05nm
9.ShimadzuEDX-7000熒光光譜儀：元素分析范圍Be-U
10.AliconaInfiniteFocus光學(xué)輪廓儀：垂直分辨率10nm

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)